Презентация Теоретические основы рентгенофлуоресцентного метода анализа. (Лекция 7) онлайн
На нашем сайте вы можете скачать и просмотреть онлайн доклад-презентацию на тему Теоретические основы рентгенофлуоресцентного метода анализа. (Лекция 7) абсолютно бесплатно. Урок-презентация на эту тему содержит всего 9 слайдов. Все материалы созданы в программе PowerPoint и имеют формат ppt или же pptx. Материалы и темы для презентаций взяты из открытых источников и загружены их авторами, за качество и достоверность информации в них администрация сайта не отвечает, все права принадлежат их создателям. Если вы нашли то, что искали, отблагодарите авторов - поделитесь ссылкой в социальных сетях, а наш сайт добавьте в закладки.
Оцените презентацию от 1 до 5 баллов!
- Тип файла:ppt / pptx (powerpoint)
- Всего слайдов:9 слайдов
- Для класса:1,2,3,4,5,6,7,8,9,10,11
- Размер файла:1.86 MB
- Просмотров:96
- Скачиваний:1
- Автор:неизвестен
Слайды и текст к этой презентации:
№1 слайд
Содержание слайда: Рентгенофлуоресцентный анализ
Теоретические основы рентгенофлуоресцентного
метода анализа
№2 слайд
Содержание слайда: Введение
Рентгенофлуоресцентный анализ (РФА) относится к физическим методам элементного анализа состава анализируемых объектов, содержащих элементы от Са (Z=20) до U (Z=92).
Особенностью метода РФА является возможность одновременного выполнения анализа качественного состава и количественного содержания элементов в сложных многокомпонентных смесях с погрешностью 10-2 %
Метод основан на анализе характеристического спектра вторичного флуоресцентного излучения пробы, который возникает под действием более жесткого рентгеновского излучения
№3 слайд
Содержание слайда: Принцип метода РФА
Квант электромагнитного излучения возникает в случае перехода электрона с одной из удаленной от ядра оболочки на более близкую к ядру оболочку при наличии в ней вакансии, образующейся в результате ионизации.
№4 слайд
Содержание слайда: Физика рентгеновской флуоресцентной спектроскопии
Все линии, образующиеся при заполнении вакансии на К- уровне, относятся к так называемой К-серии, а внутри серии эти линии обозначаются буквами греческого алфавита: α, β ,γ… Переходу L-K отвечает Kα линия, переходу М-К отвечает Кβ - линия и т.д
№5 слайд
Содержание слайда: Качественный анализ
Рис.2. Спектр образца меди с примесями.
№6 слайд
Содержание слайда: Количественный анализ
где А0- коэффициент, характеризующий величину фоновой «подстановки» под аналитической линией. При нулевой концентрации элемента X в пробе она не равна нулю;
A1 - концентрационная чувствительность (определяется углом наклона калибровочного графика и показывает удельное изменение величины аналитического сигнала при изменении концентрации элемента в пробе).
Т(х) - интенсивность аналитической линии.
№7 слайд
Содержание слайда: Количественный анализ
где Т(х) - интенсивность аналитической линии влияющий на квантовый выход элемента Y.
№8 слайд
Содержание слайда: Основные модули и принцип работы спектрометра
Рис.3 Блочная схема прибора «Спектроскан» '■
№9 слайд
Содержание слайда: Основные модули и принцип работы спектрометра рентгенофлуоресцентного анализа
где λ - длина волны излучения, отраженного от кристалла;
n- целое число, характеризует порядок отражения, т.е. определённый тип отражения, повторяющийся при значениях sinѲ, соответствующих значениям множителя n =1,2,3...
n- целое число, характеризует порядок отражения, т.е. определённый тип отражения, повторяющийся при значениях sinѲ, соответствующих значениям множителя n =1,2,3...
2d - расстояние между узлами кристаллической решетки. В «Спектроскане» используется кристалл из LiF (200), где 2d = 4.0276 (А) Ѳ - угол падения излучения на кристалл
Скачать все slide презентации Теоретические основы рентгенофлуоресцентного метода анализа. (Лекция 7) одним архивом:
