Презентация Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты онлайн

Содержание слайда:

Содержание слайда: Магнитооптические материалы. Магнитооптические эффекты Магнитооптические эффекты: продольные и поперечные; линейные и квадратичные по намагниченности

Содержание слайда: Методы исследования магнитных структур

Содержание слайда: Этапы любого исследования Этапы любого исследования Получение контраста Интерпретация результатов Характеристики методов исследования: Пространственная разрешающая способность Информационная глубина Время записи

Содержание слайда: Метод Биттера (порошковых фигур).

Содержание слайда:

Содержание слайда: Метод Биттера (порошковых фигур).

Содержание слайда: Метод Биттера (порошковых фигур). Основные характеристики метода Пространственная разрешающая способность: более 100 – 500 нм Информативная глубина: менее 5 мкм Время записи: около 1 с

Содержание слайда: Магнитооптические методы. Эффект Фарадея. (1845г.)

Содержание слайда: Магнитооптические методы. Эффекты Керра (1876 г.)

Содержание слайда: Магнитооптический контраст керровской микроскопии Интерференция и усиление благодаря диэлектрическому покрытию «Цифровой контраст»= «контраст образца» — «репера» (репер – в состоянии насыщения или усредненная картина под влиянием земного поля) Визуализация разных компонент намагниченности благодаря использованию разных плоскостей падения для одного образца.

Содержание слайда:

Содержание слайда: Магнитооптические методы. Основные характеристики магнитооптических методов: Пространственная разрешающая способность: более 300 нм Информационная глубина: порядка 10 нм Время записи: 1 пс – 1 мкс и менее

Содержание слайда: Метод темнопольной дифракции.

Содержание слайда: Метод темнопольной дифракции.

Содержание слайда: Схема экспериментальной установки для наблюдения ВБЛ в поляризационном световом микроскопе на основе метода темнопольной дифракции.

Содержание слайда: Начальные положения трех ВБЛ – (а) темные и светлые пятна, отмеченные «+», (b) положение ВБЛ после приложения плоскостного импульсного магнитного поля.

Содержание слайда: Лазерная сканирующая оптическая микроскопия (микроскопия ближнего поля). Идея микроскопии ближнего поля была предложена в 1928 году Сингхом (E.H. Syngh). В начале 80-х годов группа исследователей из Цюрихской лаборатории фирмы IBM во главе с Дитером Полем (D.W. Pohl) проникла внутрь дифракционного предела и продемонстрировала разрешение λ/20 на приборе, работающем в видимом оптическом диапазоне

Содержание слайда: Лазерная сканирующая оптическая микроскопия (микроскопия ближнего поля).

Содержание слайда: Рентгеновская фотоэмиссионная электронная микроскопия (X-PEEM)

Содержание слайда: Рентгеновская фотоэмиссионная электронная микроскопия. Структура магнитного вихря. (контраст)

Содержание слайда: Рентгеновская фотоэмисионная электронная микроскопия (X-PEEM) Основные характеристики метода: Пространственная разрешающая способность ~ 5 нм Информационная глубина ~ 10 мкм Время записи: 1 минута

Содержание слайда: Магнитная силовая микроскопия (MFM)

Содержание слайда: Магнитная силовая микроскопия: контраст

Содержание слайда: Магнитная силовая микроскопия: контраст

Содержание слайда: Магнитная силовая микроскопия Основные характеристики метода: Пространственная разрешающая способность ~ 10 нм Информационная глубина ~ 5 мкм Время записи: 1 минута

Содержание слайда: Просвечивающая электронная микроскопия (Transmission electron microscopy TEM) Просвечивающий электронный микроскоп (TEM) – это устройство, в котором изображение от ультратонкого образца (толщиной порядка 0,1 мкм) формируется в результате взаимодействия пучка электронов с веществом образца Первый TEM создан немецкими инженерами-электронщиками Максом Кноллем и Эрнстом Руской в 1931 г. (Нобелевская премия в 1986 г.) Первый практический просвечивающий электронный микроскоп был построен Альбертом Пребусом и Дж. Хиллиером в университете Торонто (Канада) в 1938 г. на основе принципов, открытых ранее Кноллем и Руской.

Содержание слайда: Просвечивающая электронная микроскопия (Transmission electron microscopy TEM) Типы ТЕМ Лоренцева микроскопия Дифференциальная фазовая микроскопия Электронная голография

Содержание слайда: Дифференциальная фазовая микроскопия Повышение контраста в электронной микроскопии Дифференциальная фазовая микроскопия – сканирующая просвечивающая микроскопия (D-TEM) Электронная голография – голография на электронных пучках (H-TEM)

Содержание слайда: Просвечивающая электронная микроскопия Основные характеристики метода: Пространственная разрешающая способность: Лоренцева микроскопия более 50 нм Дифференциальная фазовая микроскопия более 10 нм Электронная голография более 5 нм Информационная глубина: порядка 100 нм Время записи: 1с

Содержание слайда: Микроскопия на вторичных электронах Типы микроскопии на вторичных электронах: Сканирующая электронная микроскопия (SEM) Сканирующая электронная микроскопия с поляризационным анализом (SEMPA)

Содержание слайда: Сканирующая электронная микроскопия (SEM)

Содержание слайда: Сканирующая электронная микроскопия с поляризационным анализом (SEMPA) SEMPA (Koike, Hayakawa, 1984) – использование эффекта спиновой поляризации вторичных электронов

Содержание слайда: Сравнение контраста разных методов изучения магнитной структуры Co

Содержание слайда: Микроскопия на вторичных электронах Основные характеристики метода: Пространственная разрешающая способность: SEM более 500 нм SEMPA более 10 нм Информационная глубина: SEM около 10 мкм SEMPA порядка 1 нм Время записи: 10 с

Содержание слайда: Сканирующая туннельная микроскопия (scanning tunneling microscope STM)

Содержание слайда: Сканирующая туннельная микроскопия со спин-поляризованными электронами (SP-STM)

Содержание слайда: Методы исследования магнитных структур

Содержание слайда: Пространственное разрешение различных методов

Содержание слайда: Временное разрешение различных методов

Содержание слайда: Практикум: сделано-сдано