Оцените презентацию от 1 до 5 баллов!
Тип файла:
ppt / pptx (powerpoint)
Всего слайдов:
21 слайд
Для класса:
1,2,3,4,5,6,7,8,9,10,11
Размер файла:
1.83 MB
Просмотров:
98
Скачиваний:
1
Автор:
неизвестен
Слайды и текст к этой презентации:
№1 слайд
Содержание слайда: Основы кристаллографии. Дифракция рентгеновских лучей в кристаллах
№2 слайд
Содержание слайда: Твёрдое тело
Одно из 3-х агрегатных состояний в-ва - стабильность формы и малый характер теплового движения атомов, совершающих колебания около положений равновесия.
Кристаллы Аморфные тела
Моно- и поликристаллы: Дальний порядок отсутствует
дальний порядок в
расположении атомов
Наинизшее энергетическое состояние системы атомных частиц (атомов, ионов, молекул) - периодическое расположение одинаковых групп, т. е. кристаллическая структура.
№3 слайд
Содержание слайда: Твёрдое тело
Изучение св-в т. т. - знания его атомно-молекулярного строения, законов движения атомных (атомов, ионов, молекул) и субатомных (электронов, атомных ядер) частиц.
Исследование строения, структуры и св-в т. т.: кристаллография, рентгеновский структурный анализ, кристаллохимия, кристаллофизика , физика твёрдого тела, химия твёрдого тела, квантовая химия, металловедение, материаловедение, и др.
№4 слайд
Содержание слайда: КРИСТАЛЛЫ в природе
№5 слайд
Содержание слайда: Симметрия кристаллов
Симметрия кристаллов - св-во кристаллов совмещаться с собой в различных положениях путём поворотов, отражений, параллельных переносов.
Операции симметрии. Каждой операции симметрии может быть сопоставлен геометрический образ — элемент симметрии — прямая, плоскость или точка, относительно которой производится данная операция.
№6 слайд
Содержание слайда: Кристаллическая решетка
№7 слайд
Содержание слайда: Кристаллические системы
№8 слайд
Содержание слайда: Кристаллографические плоскости (hkl)
№9 слайд
Содержание слайда: Физика рентгеновских лучей
Взаимодействие их с веществом
№10 слайд
Содержание слайда: Свойства рентгеновских лучей
Эл.магнитное излучение: λ =10-4 - 102 Å (жесткое и мягкое)
Возникает при торможении ē (др. заряженных частиц), и при взаимодействии γ-излучения с в-вом.
Распространяются прямолинейно, преломляются, поляризуются и дифрагируют (как и видимый свет).
Проходят ч\з непрозрачные для видимого света тела (чем короче λ, тем больше проникающая способность).
Производят фотографическое действие (засвечивают фотографические пленки и бумагу).
Ионизируют газы, и вызывают люминесценцию многих в-в.
Можно разложить в «спектр» с помощью кристаллов.
Фотоны электромагнитного излучения обладают св-ми, как волны, так и частицы.
№11 слайд
Содержание слайда: Рассеяние рентгеновских лучей (неупругое)
Упругое столкновение фотонов с заряженными частицами - испускание фотонов с той же частотой, а при неупругом - наличие эффекта Комптона.
№12 слайд
Содержание слайда: Рассеяние рентгеновских лучей (упругое)
Электрическое поле рентгеновских лучей способно заставить колебаться заряженные частицы с той же частотой.
№13 слайд
Содержание слайда: Формула Вульфа-Брэгга
Разность хода м\у лучами, отраженными от разных плоскостей (GY+YH), кратна длине волны λ падающего излучения - интерференция с усилением (дифракция).
Условие дифракции:
2dhkl sin θ = n λ ,
где n - целое число (порядок отражения).
№14 слайд
Содержание слайда: Качественный и количественный
рентгенофазовый анализ
№15 слайд
№16 слайд
Содержание слайда: Качественный рентгенофазовый анализ
(рентгенофазовая идентификация)
(Search/Match)
№17 слайд
Содержание слайда: Количественный рентгенофазовый анализ (КРФА)
Группы методов КРФА :
Использующие стандартные образцы:
- метод внутреннего эталона,
- метод внешнего эталона;
Модифицирующие состав анализируемой пробы:
- метод добавок определяемой фазы,
- метод разбавления пробы;
Бесстандартные методы:
- ссылочных интенсивностей (по корундовым числам);
- группового анализа набора однотипных проб;
Расчетные методы:
- методы полнопрофильного анализа (метод Ритвельда).
№18 слайд
Содержание слайда: Основное уравнение КРФА
№19 слайд
Содержание слайда: Метод внешнего эталона
№20 слайд
Содержание слайда: Безэталонные методы «корундовых чисел» КРФА
Метод «корундовых чисел» (RIR) основан на накоплении в БД и использовании для КРФА корундовых чисел: отношения интенсивностей максимальных линий фазы j и корунда в смеси 1:1, т.е:
№21 слайд
Содержание слайда: Точность результатов КРФА
Факторы, влияющие на интенсивность аналитических линий фаз:
Размеры частиц фаз (эффект микропоглощения).
Верхняя граница размеров частиц, при которой эффект микропоглощения пренебрежительно мал (поправка по Бриндлею):
(*)
где d- диаметр частиц, μi(μ) - линейный коэффициент поглощения i-й фазы (образца).
При анализе «грубых» порошков (не выполняется условие (*)) требуется введение мультипликативной поправки на микропоглощение:
(**)
Поправка определяется экспериментально по искусственным смесям такого же фазового и гранулометрического состава, что и анализируемые пробы.
Фактор текстуры - преимущественная ориентация частиц (плоская или игольчатая форма). Слабые текстуры учитываются аналогично, в виде мультипликативной поправки (например, по Марч-Далласу).