Презентация Принцип действия магнитно-силового микроскопа (АСМ). Квазистатические методики в МСМ онлайн
На нашем сайте вы можете скачать и просмотреть онлайн доклад-презентацию на тему Принцип действия магнитно-силового микроскопа (АСМ). Квазистатические методики в МСМ абсолютно бесплатно. Урок-презентация на эту тему содержит всего 20 слайдов. Все материалы созданы в программе PowerPoint и имеют формат ppt или же pptx. Материалы и темы для презентаций взяты из открытых источников и загружены их авторами, за качество и достоверность информации в них администрация сайта не отвечает, все права принадлежат их создателям. Если вы нашли то, что искали, отблагодарите авторов - поделитесь ссылкой в социальных сетях, а наш сайт добавьте в закладки.
Презентации » Образование » Принцип действия магнитно-силового микроскопа (АСМ). Квазистатические методики в МСМ
Оцените!
Оцените презентацию от 1 до 5 баллов!
- Тип файла:ppt / pptx (powerpoint)
- Всего слайдов:20 слайдов
- Для класса:1,2,3,4,5,6,7,8,9,10,11
- Размер файла:1.73 MB
- Просмотров:57
- Скачиваний:0
- Автор:неизвестен
Слайды и текст к этой презентации:
№2 слайд
Содержание слайда: Лекция 22 Слайд 2
Магнитно-силовой микроскоп (МСМ) был изобретен И. Мартином и К. Викрамасингхом в 1987 г. для исследования локальных магнитных свойств образцов. Данный прибор представляет собой атомно-силовой микроскоп, у которого зонд покрыт слоем ферромагнитного материала с удельной намагниченностью M(r).
Принцип действия МСМ
№3 слайд
Содержание слайда: Лекция 22 Слайд 3
В общем случае описание взаимодействия зонда МСМ с полем образца H(r) представляет собой достаточно сложную задачу. В качестве простейшей модели рассмотрим зонд МСМ в виде одиночного магнитного диполя, характеризующегося магнитным моментом .
Потенциальная энергия такой системы
U = –H.
В поле H на магнитный диполь действует сила
f = –gradU
и момент сил
N = [H].
В однородном магнитном поле сила f = 0, так что на диполь действует лишь момент сил, который разворачивает магнитный момент вдоль поля. В неоднородном поле диполь втягивается в область с большей напряженностью H.
№5 слайд
Содержание слайда: Лекция 22 Слайд 5
Полная энергия магнитного взаимодействия зонда и образца в соответствие с предыдущим рисунком может быть представлена в следующем виде:
где интегрирование проводится по магнитному слою зонда.
Отсюда сила взаимодействия зонда с полем образца
Соответственно z-компонента силы:
№6 слайд
Содержание слайда: Лекция 22 Слайд 6
Квазистатические методики
Для образцов, имеющих слабо развитый рельеф поверхности.
МСМ изображение поверхности получают следующим образом. Во время сканирования зондовый датчик перемещается над образцом на некотором расстоянии h = const. При этом величина изгиба кантилевера, регистрируемая оптической системой, записывается в виде МСМ изображения F(x,y), представляющего собой распределение силы магнитного взаимодействия зонда с образцом.
№7 слайд
Содержание слайда: Лекция 22 Слайд 7
Для исследований магнитных образцов с сильно развитым рельефом поверхности применяется двухпроходная методика. В каждой строке сканирования производится следующая процедура. На первом проходе снимается АСМ изображение рельефа в контактном или полуконтактном режиме. Затем зондовый датчик отводится от поверхности на расстояние z0, и осуществляется повторное сканирование
№8 слайд
Содержание слайда: Лекция 22 Слайд 8
Расстояние z0 выбирается таким образом, чтобы сила Ван-дер-Ваальса была меньше силы магнитного взаимодействия.
На втором проходе датчик перемещается над поверхностью по траектории, повторяющей рельеф образца.
Поскольку в этом случае локальное расстояние между зондовым датчиком и поверхностью в каждой точке постоянно, изменения изгиба кантилевера в процессе сканирования связаны с неоднородностью магнитных сил, действующих на зонд со стороны образца.
Таким образом, итоговый МСМ кадр представляет собой двумерную функцию F(x,y), характеризующую распределение силы магнитного взаимодействия зонда с образцом.
№9 слайд
Содержание слайда: Лекция 22 Слайд 9
Колебательные методики
Применение колебательных методик в магнитно-силовой микроскопии позволяет реализовать большую (по сравнению с квазистатическими методиками) чувствительность и получать более качественные МСМ изображения образцов. Как было показано в лекции, посвященной бесконтактной методике АСМ, наличие градиента силы приводит к изменению резонансной частоты, а следовательно, к сдвигу АЧХ и ФЧХ системы зонд-образец. Данные изменения резонансных свойств системы используются для получения информации о неоднородном распределении намагниченности на поверхности образцов. В случае магнитного взаимодействия зонда с поверхностью сдвиг резонансной частоты колеблющегося кантилевера будет определяться производной по координате z от величины Fz
№10 слайд
Содержание слайда: Лекция 22 Слайд 10
Для получения МСМ изображения поверхности используется двухпроходная методика.
С помощью пьезовибратора возбуждаются колебания кантилевера на частоте ω вблизи резонанса.
На первом проходе в полуконтактном режиме записывается рельеф поверхности.
На втором проходе зондовый датчик движется над образцом по траектории, соответствующей рельефу, так, что расстояние между ним и поверхностью в каждой точке равно величине z0 = const, определяемой оператором.
МСМ изображение формируется посредством регистрации изменений амплитуды или фазы колебаний кантилевера.
№11 слайд
Содержание слайда: Лекция 22 Слайд 11
Изменения амплитуды и сдвиг фазы колебаний, связанные с вариациями градиента силы, при условии, что изменения Fz' вдоль поверхности невелики, будут равны
Коэффициенты перед ΔFz' определяют чувствительность амплитудного и фазового методов измерения. Максимум чувствительности достигается при определенных частотах возбуждения кантилевера.
№12 слайд
Содержание слайда: Лекция 22 Слайд 12
МСМ изображения поверхности магнитного диска.
(а) – АСМ изображение рельефа поверхности; (б) – МСМ изображение фазового контраста; (в) – МСМ изображение амплитудного контраста; (г) – МСМ изображение распределения силы взаимодействия зонда с поверхностью.
№14 слайд
Содержание слайда: Лекция 22 Слайд 14
Недостатком контактных АСМ методик является непосредственное механическое взаимодействие зонда с поверхностью. Это часто приводит к поломке зондов и разрушению поверхности образцов. Кроме того, контактные методики практически не пригодны для исследования образцов, обладающих малой механической жесткостью (структуры на основе ряда органических материалов и многие биологические объекты).
Для исследования таких образцов применяются колебательные АСМ методики, основанные на регистрации параметров взаимодействия колеблющегося кантилевера с поверхностью. Данные методики позволят существенно уменьшить механическое воздействие зонда на поверхность в процессе сканирования.
№15 слайд
Содержание слайда: Лекция 22 Слайд 15
Точное описание колебаний кантилевера зондового датчика АСМ представляет собой весьма сложную математическую задачу. С целью упрощения задачи, рассмотрим процессы, происходящие при взаимодействии колеблющегося кантилевера с поверхностью, в рамках модели сосредоточенной массы. Пусть имеется кантилевер в виде упругой консоли с жесткостью k, с сосредоточенной массой m на одном конце. Другой конец консоли закреплен на пьезовибраторе ПВ
№16 слайд
Содержание слайда: Лекция 22 Слайд 16
Если пьезовибратор совершает гармонические колебания u = u0cosωt с частотой ω, тогда уравнение движения такой колебательной системы имеет вид
где член, пропорциональный первой производной по времени, учитывает силы вязкого трения со стороны воздуха, а посредством F0 обозначена сила тяжести и другие возможные постоянные силы.
Как известно, постоянная сила лишь смещает положение равновесия системы и не влияет на частоту, амплитуду и фазу колебаний. Делая замену переменных z = z + F0/k (т.е. рассматривая колебания относительно нового состояния равновесия), можно привести уравнение движения кантилевера к виду:
№17 слайд
Содержание слайда: Лекция 22 Слайд 17
Разделив уравнение на m и введя параметр добротности системы Q = 0m/γ, получим уравнение движения в следующем виде:
Амплитудно-частотная (АЧХ) и фазо-частотная (ФЧХ) характеристики кантилевера, отвечающие данному уравнению
Величина rd, определяющая сдвиг относительно резонансной частоты 0 находится из соотношения rd2 = 02(1 – 1/2Q2).
№18 слайд
Содержание слайда: Лекция 22 Слайд 18
В бесконтактном режиме кантилевер совершает вынужденные колебания с малой амплитудой порядка 1 нм. При приближении зонда к поверхности на кантилевер начинает действовать дополнительная сила со стороны образца. При ван-дер-ваальсовом взаимодействии это соответствует области расстояний между зондом и образцом, где действует сила притяжения. Появление такой дополнительной силы немного модифицирует вышеприведенные уравнения и в результате АЧХ и ФЧХ приобретают вид
Дополнительный сдвиг фазы при наличии градиента силы
№19 слайд
Содержание слайда: Лекция 22 Слайд 19
Регистрация изменения амплитуды и фазы колебаний кантилевера в бесконтактном режиме требует высокой чувствительности и устойчивости работы обратной связи.
На практике чаще используется т.н. полуконтактный режим колебаний кантилевера. При работе в этом режиме возбуждаются вынужденные колебания кантилевера вблизи резонанса с амплитудой порядка 10 – 100 нм. Кантилевер подводится к поверхности так, чтобы в нижнем полупериоде колебаний происходило касание поверхности образца.
При сканировании образца регистрируется изменение амплитуды и фазы колебаний кантилевера.
№20 слайд
Содержание слайда: Лекция 22 Слайд 20
Формирование АСМ изображения поверхности в режиме колебаний кантилевера происходит следующим образом.
С помощью пьезовибратора возбуждаются колебания кантилевера на частоте ω (близкой к резонансной частоте кантилевера) с амплитудой Аω. При сканировании система обратной связи АСМ поддерживает постоянной амплитуду колебаний кантилевера на уровне A0, задаваемом оператором (A0 < Аω).
Напряжение в петле обратной связи (на z-электроде сканера) записывается в память компьютера в качестве АСМ изображения рельефа поверхности.
Одновременно при сканировании образца в каждой точке регистрируется изменение фазы колебаний кантилевера, которое записывается в виде распределения фазового контраста.
Скачать все slide презентации Принцип действия магнитно-силового микроскопа (АСМ). Квазистатические методики в МСМ одним архивом:
-
Принцип действия атомно-силового микроскопа (АСМ). Схема реализации обратной связи в АСМ
-
Принципы сканирующей зондовой микроскопии. Сканирующий туннельный микроскоп. Атомно-силовой микроскоп
-
Принцип действия просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ). Схема ПЭМ
-
Принцип действия растрового электронного микроскопа. Схема РЭМ. Понятие увеличения в РЭМ.
-
Дидактические и методические принципы развития слухового восприятия.
-
Некоторые принципы визуального дизайна. Элементы опыта взаимодействия по Гарретту
-
Принцип професійної спрямованості викладання загальноосвітніх предметів у ПТНЗ Виступ методиста Короп Т. С. на засіданні НМР
-
Принципы действия хозяйствующих субъектов экономики. Кривая производственных возможностей
-
МОДУЛЬНЫЙ ПРИНЦИП ПРЕДМЕТА «ОРКСЭ» – СИТУАЦИЯ РОДИТЕЛЬСКОГО ВЫБОРА Методист Регионального центра духовно-нравственного ра
-
Роль универсальных учебных действий в системе современного общего среднего образования Федотова А. В. , методист ГИМЦ г. Комсомольс