Презентация Методи дослідження наносистем: спектроскопічні та дифракційні методи онлайн
На нашем сайте вы можете скачать и просмотреть онлайн доклад-презентацию на тему Методи дослідження наносистем: спектроскопічні та дифракційні методи абсолютно бесплатно. Урок-презентация на эту тему содержит всего 36 слайдов. Все материалы созданы в программе PowerPoint и имеют формат ppt или же pptx. Материалы и темы для презентаций взяты из открытых источников и загружены их авторами, за качество и достоверность информации в них администрация сайта не отвечает, все права принадлежат их создателям. Если вы нашли то, что искали, отблагодарите авторов - поделитесь ссылкой в социальных сетях, а наш сайт добавьте в закладки.
Оцените презентацию от 1 до 5 баллов!
- Тип файла:ppt / pptx (powerpoint)
- Всего слайдов:36 слайдов
- Для класса:1,2,3,4,5,6,7,8,9,10,11
- Размер файла:9.92 MB
- Просмотров:59
- Скачиваний:1
- Автор:неизвестен
Слайды и текст к этой презентации:
№1 слайд
Содержание слайда: Методи дослідження наносистем:
спектроскопічні та дифракційні методи
Лекція №8
30.03.16
№2 слайд
Содержание слайда: Методи дослідження наносистем:
2.Дифракційні методи:
№3 слайд
Содержание слайда: Методи дослідження поверхні
№4 слайд
Содержание слайда: Дифракційні методи для наносистем:
Завдання рентгеноструктурного аналізу нанокристалів:
1.Атомна структура наночастинок (наноблоків).
2.Форма наночастинок (наноблоков).
3.Размір часточок, параметри розподілу по розмірам
4. Наноструктура –структура міжблочних границь.
№5 слайд
Содержание слайда: Нанокристал:
№6 слайд
Содержание слайда: Методи рентгенографічного аналізу наносистем
№7 слайд
Содержание слайда: Малокутове рентгенівське розсіювання
№8 слайд
Содержание слайда: Вплив дефектів на ширину ліній
№9 слайд
Содержание слайда: Малокутове рентгенівське розсіювання
№10 слайд
Содержание слайда: Фактори впливу на ширину ліній
№11 слайд
Содержание слайда: Дифракція електронів для дослідження поверхні:
№12 слайд
Содержание слайда: Дифракція повільних електронів
№13 слайд
Содержание слайда: Дифракція швидких електронів
№14 слайд
Содержание слайда: Нейтронна дифракція по часу прольоту
№15 слайд
Содержание слайда: Рентгенівська та фотоелектронна спектроскопія
№16 слайд
Содержание слайда: Рентгенівська спектроскопія поглинання
X-ray Absorption Fine Structure
(XAFS)
№17 слайд
Содержание слайда: Локальна структура плівок GaAs
№18 слайд
Содержание слайда: XAFS –
спектри фулеренів
№19 слайд
Содержание слайда: Рентгенівська фотоелектронна спектроскопія
Області застосування:
Якісний і кількісний аналіз поверхні (всі елементи, починаючи з He);
аналіз ступеня окиснення виявлених елементів;
вивчення зонної структури твердого тіла;
дослідження розподілу ступенів окиснення по глибині (профілювання) і по поверхні (картування);
вивчення реакцій на поверхні, зокрема, каталізу;
аналіз домішок і дефектів та ін.
№20 слайд
Содержание слайда: Рентгенівська фотоелектронна спектроскопія: оглядовий спектр
№21 слайд
Содержание слайда: Вторинний спектр: природа сателітів
№22 слайд
Содержание слайда: Стан Оксигену на срібних наноплівках
№23 слайд
Содержание слайда: Електронна Оже-спектроскопія
№24 слайд
Содержание слайда: Оже-переходи.
Точки, що мають інтенсивніший чорний колір, є найімовірніші
Оже-переходи
№25 слайд
Содержание слайда: Оже-спектроскопія наноалмазів
№26 слайд
Содержание слайда:
№27 слайд
Содержание слайда: Діагностика складу приповерхневих шарів наносистем
№28 слайд
Содержание слайда: ІЧ та Раманівська спектроскопія
№29 слайд
Содержание слайда: Фізико-хімічні характеристики наносистем
№30 слайд
Содержание слайда: Іммобілізація продуктів відновлення сульфід-йоном Au3+
№31 слайд
Содержание слайда: Комплексне застосування фізико-хімічних методів дослідження на прикладі полішарових плівок
№32 слайд
Содержание слайда: Комплексне застосування фізико-хімічних методів дослідження на прикладі полішарових плівок
№33 слайд
Содержание слайда:
№34 слайд
Содержание слайда: Встановлення механізму витіснення наночасточок золота
№35 слайд
Содержание слайда: Короткі нотатки:
1. Дифракційні методи аналізу включають дифракцію рентгенівського випромінювання, нейтронографію та дифракцію повільних та швидких електронів. Користуючись цими методами встановлюють атомну будову поверхні твердих зразків, аналізують шорсткість та середній розмір наночасточок.
2. При взаємодії рентгенівського випромінювання з атомами можлива реалізація трьох процесів: фотоіонізації, флуоресценції, Оже-процесу.
3. Рентгенівська та фотоелектронна спектроскопія вивчає електронні переходи за участю валентних та внутрішніх електронів для встановлення ближнього та дальнього порядку, зарядового стану атомів.
4. У спектрах рентгенівської фотоелектронної спектроскопії крім характеристичних смуг спостерігаються елементи вторинної структури: рентгенівські сателіти, мультиплетне розширення та ін.
5. Оже - спектроскопія хоча і має обмеження, однак може бути використана і для кількісного аналізу.
№36 слайд
Содержание слайда: Рекомендована література:
С.В. Цыбуля, С.В. Черепанова // Введение в структурный анализ нанокристаллов – Новосибирск, - 2008 – 92с.
Суздалев И.П. Нанотехнология: Физико-химия нанокластеров, наноструктур и наноматериаллов // М: ЛИБРОКОМ, 2009, 592с.
Уиндзор К. Рассеяние нейтронов от импульсных источников, М.Энергоатомиздат, 1985.
Аксенов В.Л., Тютюнников С.И., Кузьмин А.Ю., Пуранс Ю. EXAFS – спектроскопия на пучках синхротронного излучения // Физика элементарных частиц и атомного ядра - 2001 – том 32, вып. №6 – с. 1299 – 1358.
Н.А.Петров, Л.В.Яшина. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия // Москва, МГУ, 2011.
6. В.И. Троян, М.А. Пушкин, В.Д. Борман, В.Н. Тронин Физические основы методов исследования наноструктур и поверхности твердого тела / Под ред. В.Д. Бормана: Учебное пособие. – М.: МИФИ, 2008. – 260 с.
Скачать все slide презентации Методи дослідження наносистем: спектроскопічні та дифракційні методи одним архивом:
