Презентация Атомно-силовой микроскоп онлайн

Содержание слайда: Презентация на тему: «Атомно-силовой микроскоп»

Содержание слайда: Атомно-силовой микроскоп Атомно-силовая микроскопия — вид зондовой микроскопии, в основе которого лежит силовое взаимодействие атомов (строго говоря обменное взаимодействие атомов зонда и исследуемого образца). Атомно-силовой микроскоп (АСМ, англ. AFM – atomic-force microscope) - сканирующий зондовый микроскоп высокого разрешения. Используется для определения рельефа поверхности с разрешением от десятков ангстрем вплоть до атомарного. В отличие от сканирующего туннельного микроскопа, с помощью атомно-силового микроскопа можно исследовать как проводящие, так и непроводящие поверхности.

Содержание слайда: История изобретения АСМ В 1982 году (момент опубликования в Phys. Rev. Lett.) Генрихом Рорером и Гердом Биннигом был открыт метода сканирующей туннельной микроскопии. В 1986 году Гердом Биннигом, Кельвином Куэйтом и Кристофером Гербером в США, был изобретен первый атомно-силовой микроскоп.

Содержание слайда: Конструкция АСМ

Содержание слайда: Основные технические сложности при создании микроскопа: Создание иглы, заострённой действительно до атомных размеров. Обеспечение механической (в том числе тепловой и вибрационной) стабильности на уровне лучше 0,1 ангстрема. Создание детектора, способного надёжно фиксировать столь малые перемещения. Создание системы развёртки с шагом в доли ангстрема. Обеспечение плавного сближения иглы с поверхностью.

Содержание слайда: Принцип работы АСМ На расстоянии около одного ангстрема между атомами образца и атомом зонда (кантилевера) возникают силы отталкивания, а на больших расстояниях - силы притяжения. Идея устройства очень проста - кантилевер, перемещаясь относительно поверхности и реагируя на силовое взаимодействие, регистрирует ее рельеф

Содержание слайда: Принцип работы АСМ

Содержание слайда: Под силами, действующими между зондом и образцом, в первую очередь подразумевают дальнодействующие силы Ван-дер-Ваальса, которые сначала являются силами притяжения, а при дальнейшем сближении переходят в силы отталкивания. Под силами, действующими между зондом и образцом, в первую очередь подразумевают дальнодействующие силы Ван-дер-Ваальса, которые сначала являются силами притяжения, а при дальнейшем сближении переходят в силы отталкивания.

Содержание слайда: Режимы работы В зависимости от расстояний от иглы до образца возможны следующие режимы работы атомно-силового микроскопа: • контактный режим (contact mode); • бесконтактный режим (non-contact mode); • полуконтактный режим (tapping mode).

Содержание слайда: Преимущества и недостатки АСМ Преимущества: Атомно-силовая микроскопия позволяет получить истинно трёхмерный рельеф поверхности; Изучаемая поверхность не требует нанесения проводящего металлического покрытия, которое часто приводит к заметной деформации поверхности. большинство режимов атомно-силовой микроскопии могут быть реализованы на воздухе или даже в жидкости.

Содержание слайда: Обработка полученной информации и восстановление полученных изображений Снятое на сканирующем зондовом микроскопе изображение трудно поддается расшифровке из-за присущих данному методу искажений. Практически всегда результаты первоначального сканирования подвергаются математической обработке.

Содержание слайда: ПРОИЗВОДИТЕЛИ АСМ В РОССИИ И СНГ В АЛФАВИТНОМ ПОРЯДКЕ ООО «АИСТ-НТ» ООО «Нано Скан Технология» «Микротестмашины», Беларусь ЗАО «Нанотехнология МДТ» ЗАО «Центр перспективных технологий»