Презентация Сканирующий атомно-силовой микроскоп онлайн
На нашем сайте вы можете скачать и просмотреть онлайн доклад-презентацию на тему Сканирующий атомно-силовой микроскоп абсолютно бесплатно. Урок-презентация на эту тему содержит всего 15 слайдов. Все материалы созданы в программе PowerPoint и имеют формат ppt или же pptx. Материалы и темы для презентаций взяты из открытых источников и загружены их авторами, за качество и достоверность информации в них администрация сайта не отвечает, все права принадлежат их создателям. Если вы нашли то, что искали, отблагодарите авторов - поделитесь ссылкой в социальных сетях, а наш сайт добавьте в закладки.
Оцените презентацию от 1 до 5 баллов!
- Тип файла:ppt / pptx (powerpoint)
- Всего слайдов:15 слайдов
- Для класса:1,2,3,4,5,6,7,8,9,10,11
- Размер файла:3.22 MB
- Просмотров:63
- Скачиваний:0
- Автор:неизвестен
Слайды и текст к этой презентации:
№1 слайд
Содержание слайда: Сканирующий атомно-силовой микроскоп
Казанский (Приволжский) федеральный университет
Институт физики
Кафедра физики твердого тела
№2 слайд
Содержание слайда: Немного истории…
№3 слайд
Содержание слайда: Возможности ССМ
Получение изображений поверхности образцов
Изучение электронных и магнитных состояний поверхности
Изучение атомно-силовых взаимодействий
Атомное конструирование
Литография
№4 слайд
Содержание слайда: Физические основы метода
№5 слайд
Содержание слайда:
№6 слайд
Содержание слайда: Датчики ССМ
№7 слайд
Содержание слайда: Конструкция атомно-силового микроскопа
Основными конструктивными составляющими атомно-силового микроскопа являются:
•Жёсткий корпус, удерживающий систему
•Держатель образца, на котором образец впоследствии закрепляется
•Устройства манипуляции
•Зонд
•Система регистрации отклонения зонда
-Оптическая (включает лазер и фотодиод, наиболее распространённая)
- Пьезоэлектрическая (использует прямой и обратный пьезоэффект)
-Интерферометрическая (состоит из лазера и оптоволокна)
-Ёмкостная (измеряется изменение ёмкости между кантилевером и расположенной выше неподвижной пластиной)
-Туннельная (исторически первая, регистрирует изменение туннельного тока между проводящим кантилевером и расположенной выше туннельной иглой)
•Система обратной связи
•Управляющий блок с электроникой
№8 слайд
Содержание слайда: Система регистрации изгиба
№9 слайд
Содержание слайда: Принцип работы
№10 слайд
Содержание слайда:
№11 слайд
Содержание слайда: Два приема ССМ
№12 слайд
Содержание слайда: Режимы работы
№13 слайд
Содержание слайда: ССМ
№14 слайд
Содержание слайда: Список литературы
Миронов, В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии / В.Л. Миронов. – Н. Новгород. – 2004. – 114 с.
http://phys.unn.ru/Библиотека- Материалы лекций, методические пособия- Сканирующая зондовая спектроскопия
Bhanu. Methods in Cell / Bhanu, P. Jena, J. Heinrich, K. Horber // Biology. – 2002. – Vol 68.
Li, Hong-Qiang. “Atomic Force Microscopy”. http://www.chembio.uoguelph.ca/educmat/chm729.afm.htm
№15 слайд
Содержание слайда: Спасибо за внимание!
Скачать все slide презентации Сканирующий атомно-силовой микроскоп одним архивом:
