Презентация Основы высоковакуумной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии, атомно-силовая микроскопия онлайн
На нашем сайте вы можете скачать и просмотреть онлайн доклад-презентацию на тему Основы высоковакуумной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии, атомно-силовая микроскопия абсолютно бесплатно. Урок-презентация на эту тему содержит всего 17 слайдов. Все материалы созданы в программе PowerPoint и имеют формат ppt или же pptx. Материалы и темы для презентаций взяты из открытых источников и загружены их авторами, за качество и достоверность информации в них администрация сайта не отвечает, все права принадлежат их создателям. Если вы нашли то, что искали, отблагодарите авторов - поделитесь ссылкой в социальных сетях, а наш сайт добавьте в закладки.
Оцените презентацию от 1 до 5 баллов!
- Тип файла:ppt / pptx (powerpoint)
- Всего слайдов:17 слайдов
- Для класса:1,2,3,4,5,6,7,8,9,10,11
- Размер файла:3.71 MB
- Просмотров:56
- Скачиваний:0
- Автор:неизвестен
Слайды и текст к этой презентации:
№1 слайд
Содержание слайда: Основы высоковакуумной
сканирующей туннельной
микроскопии и спектроскопии,
атомно-силовая микроскопия
№2 слайд
Содержание слайда: План
1. Принципы сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ)
2. Сканирующая туннельная микроскопия (СТМ)
3. Сканирующая атомно-силовая микроскопия (АСМ)
4. Применение средств СЗМ в изучении наноматериалов и наноструктур, СЗМ-наноинженерия
№3 слайд
Содержание слайда: Литература
Scanning probe microscopy and spectroscopy: methods and applications by Roland Wiesendanger Cambridge University Press, 1994 ISBN 0521428475, 9780521428477
• Scanning Probe Microscopy - Analytical Methods by Roland Wiesendanger, Springer, 1998 ISBN 3540638156, 9783540638155
• Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy : Theory, Techniques, and Applications by Dawn Bonnell (Editor), Wiley-VCH, 2000
• Scanning Probe Microscopy: The Lab on a Tip by Ernst Meyer ,Hans Josef Hug, Roland Bennewitz, Springer-Verlag, 2003, ISBN: 3540431802
• Основы сканирующий зондовой микроскопии, Миронов В. Л., 2004. Твердый переплет. 144 с. цена : 186,00 руб (https://www.books.ru/shop/books/230464)
• Г. Бинниг, Г. Рорер, «Сканирующая туннельная микроскопия — от рождения к юности», УФН, 154 (2) (1988)
• http://www.ntmdt.ru/spm-basics
• http://www.veeco.com/library/
• http://www.almaden.ibm.com/vis/stm/
• http://www.nanoscience.de/group_
№4 слайд
Содержание слайда: Оптический микроскоп
Дифракционный предел разрешения:
апертура объектива 0.95 на воздухе, 1.5 в масле
№5 слайд
Содержание слайда: Электронный микроскоп
№6 слайд
Содержание слайда: СЭМ: принцип сканирования
Принцип сканирования: увеличение M =L/l
№7 слайд
Содержание слайда: Сканирующий туннельный (зондовый) микроскоп
№8 слайд
Содержание слайда: 1982 – 1-й СТМ
№9 слайд
Содержание слайда: Что такое «сканирующий зонд»?
№10 слайд
Содержание слайда: Основные элементы СЗМ
№11 слайд
Содержание слайда: Пьезосканер
№12 слайд
Содержание слайда: Подведение зонда к образцу
№13 слайд
Содержание слайда: Алгоритм подведения зонда
Подведение зонда к образцу с первоначального расстояния от поверхности 1мм до расстояния 0.1 нм (за 1 минуту) эквивалентно полету к Луне с остановкой на высоте 40м над ее поверхностью (со скоростью 23 миллионов км/час)
№14 слайд
Содержание слайда: Примеры СЗМ и СТМ
№15 слайд
Содержание слайда: Принцип сканирования
№16 слайд
Содержание слайда: Формат данных в СЗМ
HDF - Hierarchical Data Format (Иерархический формат данных) разрабатываемый The National Center for Supercomputing Applications (http://www.ncsa.uiuc.edu) с 1987г. и довольно широко используемый в настоящее время научным сообществом: http://www.hdfgroup.org/
Географические информационные системы (ГИС) и дистанционное зондирование Земли
http://gis-lab.info/docs/hdf.html
№17 слайд
Содержание слайда: Представление СЗМ данных
Скачать все slide презентации Основы высоковакуумной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии, атомно-силовая микроскопия одним архивом:
