Оцените презентацию от 1 до 5 баллов!
Тип файла:
ppt / pptx (powerpoint)
Всего слайдов:
12 слайдов
Для класса:
1,2,3,4,5,6,7,8,9,10,11
Размер файла:
248.00 kB
Просмотров:
54
Скачиваний:
0
Автор:
неизвестен
Слайды и текст к этой презентации:
№1 слайд
Содержание слайда: Лекция 27 Слайд 1
Темы лекции
Проведение количественного анализа в Оже-спектроскопии методом внешних эталонов и методом коэффициентов элементной чувствительности.
Растровая Оже-электронная спектроскопия.
№2 слайд
Содержание слайда: Лекция 27 Слайд 2
Качественный анализ дает информацию о том, какие элементы входят в состав образца. Количественный анализ применяется для определения концентрации присутствующих на поверхности элементов
Качественный анализ. По измеренным значениям энергий Оже-электронов необходимо определить, каким именно химическим элементам соответствуют зарегистрированные максимумы спектра. Для этого используются справочники с таблицами энергий Оже-переходов и атласы эталонных Оже-спектров.
№3 слайд
Содержание слайда: Лекция 27 Слайд 3
Количественный анализ. Для проведения количественного анализа методом ОЭС необходимо установить связь между током Оже-электронов данного элемента и его концентрацией в приповерхностной области.
Пусть в состав образца входит элемент,
измеренная энергия Оже-пика которого
соответствует Оже-переходу .
Данный элемент, находящийся в слое толщиной dx,
расположенном на глубине x, дает следующий вклад
в величину Оже-пика
(в предположении 100% эффективность измерительной системы)
dIA = Ie(x)[1 + r(x)]и(x)n(x)WAe-x/cos(A/4)dx
№4 слайд
Содержание слайда: Лекция 27 Слайд 4
где Ie(x) – ток электронов пучка, которые на глубине x имеют энергию больше энергии связи оболочки/подоболочки данного элемента ( );
r(x) – коэффициент, учитывающий отраженные электроны, проходящие слой dx с энергией большей (не путать с коэффициентом отражения);
и(x) – сечение ударной электронной ионизации для электронов, находящихся на глубине x;
n(x) – атомная концентрация искомого элемента на глубине x;
WA – вероятность, что в результате ионизации оболочки/подоболочки произойдет именно Оже-переход;
– глубина выхода Оже-электронов;
A – телесный угол сбора электронов электростатическим энергоанализатором.
№5 слайд
Содержание слайда: Лекция 27 Слайд 5
Полный ток, отвечающий данному Оже-пику
Так как ~ 10 Å, то основной вклад в интеграл дает экспонента, поэтому формально верхний предел можно заменить на бесконечность и вынести за знак интеграла все сомножители кроме экспоненты.
Поэтому основное уравнение количественного анализа
где I0 – ток пучка электронов; n – концентрация искомого элемента на поверхности образца, r – коэффициент, учитывающий отраженные электроны, пересекающие поверхность с энергией больше
№6 слайд
Содержание слайда: Лекция 27 Слайд 6
Непосредственное определение n в соответствие с данным выражением сопряжено со значительными трудностями, связанными, в первую очередь, с неопределенностью значения r, поэтому на практике пользуются следующими приближенными методами, в конечном счете, связанными с использованием эталонных образцов.
Метод внешних эталонов
Метод коэффициентов элементной чувствительности
№7 слайд
Содержание слайда: Лекция 27 Слайд 7
Метод внешних эталонов
В этом методе амплитуда Оже-пика от интересующего элемента в исследуемом образце сравнивается с амплитудой Оже-пика от моноэлементного образца, имеющего атомную концентрацию .
В эталонном образце ток IA для того же перехода
Если оба измерения проведены в одинаковых условиях, то
Откуда
где последняя дробь – т.н. матричный фактор.
№8 слайд
Содержание слайда: Лекция 27 Слайд 8
В случае если известно, что исследуемый образец близок по стехиометрии эталонному полиатомному образцу, содержащему те же элементы, что и исследуемый образец, тогда можно считать, что матричные факторы обеих образцов практически совпадают и
где nэ – концентрация искомого элемента в эталонном образце. Проведя подобные измерения по всем элементам, содержащимся в исследуемом образце, мы решим задачу количественного анализа.
№9 слайд
Содержание слайда: Лекция 27 Слайд 9
Метод коэффициентов элементной чувствительности
Метод коэффициентов элементной чувствительности основан на допущении, что интенсивность оже-сигнала Ii элемента i просто пропорциональна его концентрации на поверхности ni. Это соответствует замене всех сомножителей в уравнении (26.3), кроме ni и величин А и , заданных геометрией измерения и вместе с эффективностью измерительной системы, определяющих чувствительность спектрометра k, константой Si, поэтому
.
Коэффициент Si определяет чувствительность метода к данному элементу и поэтому называется коэффициентом элементной чувствительности.
№10 слайд
Содержание слайда: Лекция 27 Слайд 10
Коэффициенты элементной чувствительности приведены в атласах эталонных Оже-спектров. Все спектры, приводимые в атласе, сняты в идентичных условиях и каждый спектр нормирован на амплитуду Оже-пика перехода MVV в серебре с энергией EА = 354 эВ, т.е. коэффициент элементной чувствительности серебра принят за 1.
Проведя калибровку по серебру, т.е. определить чувствительность используемого Оже-спектрометра относительно чувствительности, приведенной в атласе, в рамках данного метода можно считать, что атомная концентрация i-элемента, в исследуемом образце (содержащим всего N элементов)
№11 слайд
Содержание слайда: Лекция 27 Слайд 11
Растровая Оже-электронная спектроскопия
Оже-электронная спектроскопия дает нам информацию об элементном составе участка поверхности тела, размеры которого в первом приближении определяются размерами самого электронного зонда (пучка первичных электронов). Перемещая электронный зонд по поверхности, можно получить данные о распределении элементов на ней в разных точках. В Оже-спектрометрах первого поколения диаметр первичного электронного пучка составлял десятые доли миллиметра. Поэтому и пространственное разрешение было того же порядка. В настоящее время диаметр пучка в Оже-спектрометрах может быть доведен до сотен Å. Это дало возможность создать растровый Оже-спектрометр.
№12 слайд
Содержание слайда: Лекция 27 Слайд 12
Схема действия растрового Оже-спектрометра
Первичный электронный пучок сканируется по растру на образце, подобно тому, как это сделано в РЭМ. Энергоанализатор настроег на энергию пропускания, соответствующую энергии Оже-пика одного из элементов, входящих в состав образца. Ток с детектора используется для модуляции яркости на экране электронно-лучевой трубки, подобно тому, как это делается в РЭМ. Развертка первичного электронного пучка в растр синхронизована с разверткой ЭЛТ.