Презентация Нанохимия и нанотехнологии. Методы и средства исследования нанообъектов. (Лекция 3) онлайн
На нашем сайте вы можете скачать и просмотреть онлайн доклад-презентацию на тему Нанохимия и нанотехнологии. Методы и средства исследования нанообъектов. (Лекция 3) абсолютно бесплатно. Урок-презентация на эту тему содержит всего 16 слайдов. Все материалы созданы в программе PowerPoint и имеют формат ppt или же pptx. Материалы и темы для презентаций взяты из открытых источников и загружены их авторами, за качество и достоверность информации в них администрация сайта не отвечает, все права принадлежат их создателям. Если вы нашли то, что искали, отблагодарите авторов - поделитесь ссылкой в социальных сетях, а наш сайт добавьте в закладки.
Презентации » Химия » Нанохимия и нанотехнологии. Методы и средства исследования нанообъектов. (Лекция 3)
Оцените!
Оцените презентацию от 1 до 5 баллов!
- Тип файла:ppt / pptx (powerpoint)
- Всего слайдов:16 слайдов
- Для класса:1,2,3,4,5,6,7,8,9,10,11
- Размер файла:1.63 MB
- Просмотров:87
- Скачиваний:0
- Автор:неизвестен
Слайды и текст к этой презентации:
№2 слайд
![Нанометрологические средства](/documents_6/84d594995213d523180f5948e14e1751/img1.jpg)
Содержание слайда: Нанометрологические средства исследования объектов:
Прямые микроскопические:
Электронная микроскопия
Сканирующая зондовая микроскопия
Косвенные:
Дифракционный анализ
Спектральные методы:
оптическая, рамановская, Оже-, рентгеноэлектронная, магниторезонансная спектроскопии, Масс-спектрометрия
№4 слайд
![Просвечивающий электронный](/documents_6/84d594995213d523180f5948e14e1751/img3.jpg)
Содержание слайда: Просвечивающий электронный микроскоп
это устройство, в котором изображение от ультратонкого образца (толщиной порядка 0,1 мкм) формируется в результате взаимодействия пучка электронов с веществом образца с последующим увеличением магнитными линзами (объектив) и регистрацией на флуоресцентном экране, фотоплёнке или сенсорном приборе с зарядовой связью
Состоит из:
вакуумная система;
предметный столик — держатель образца и система для его наклонения;
источник электронов (электронный прожектор, электронная пушка) для генерирования электронного потока;
источник высокого напряжения для ускорения электронов;
набор электромагнитных линз и электростатических пластин для управления и контроля электронного луча;
апертуры;
экран, на который проецируется увеличенное электронное изображение (постепенно выходит из употребления, заменяясь детекторами цифрового изображения)
№5 слайд
![Растровая электронная](/documents_6/84d594995213d523180f5948e14e1751/img4.jpg)
Содержание слайда: Растровая электронная микроскопия
Тонкий электронный зонд генерируется электронной пушкой, которая играет роль источника электронов, и фокусируется электронными линзами (обычно электромагнитными, иногда электростатическими). Сканирующие катушки отклоняют зонд в двух взаимоперпендикулярных направлениях, сканируя поверхность образца зондом, подобно сканированию электронным пучком экрана электронно-лучевой трубки телевизора. Источник электронов, электронные линзы (обычно тороидальные магнитные) и отклоняющие катушки образуют систему, называемую электронной колонной
№6 слайд
![Электроны зонда пучка](/documents_6/84d594995213d523180f5948e14e1751/img5.jpg)
Содержание слайда: Электроны зонда (пучка) взаимодействуют с материалом образца и генерируют различные типы сигналов: вторичные электроны, обратноотраженные электроны, Оже-электроны, рентгеновское излучение, световое излучение (катодолюминесценция) и т. д. Эти сигналы являются носителями информации о топографии и материале образца.
Электроны зонда (пучка) взаимодействуют с материалом образца и генерируют различные типы сигналов: вторичные электроны, обратноотраженные электроны, Оже-электроны, рентгеновское излучение, световое излучение (катодолюминесценция) и т. д. Эти сигналы являются носителями информации о топографии и материале образца.
№7 слайд
![Сканирующая зондовая](/documents_6/84d594995213d523180f5948e14e1751/img6.jpg)
Содержание слайда: Сканирующая зондовая микроскопия
Сканирующие зондовые микроскопы — класс микроскопов для получения изображения поверхности и её локальных характеристик. Процесс построения изображения основан на сканировании поверхности зондом. В общем случае позволяет получить трёхмерное изображение поверхности (топографию) с высоким разрешением. Сканирующий зондовый микроскоп в современном виде изобретен (принципы этого класса приборов были заложены ранее другими исследователями) Гердом Карлом Биннигом и Генрихом Рорером в 1981 году. За это изобретение были удостоены Нобелевской премии по физике за 1986 год, которая была разделена между ними и изобретателем просвечивающего электронного микроскопа Э. Руска. Отличительной СЗМ особенностью является наличие:
зонда,
системы перемещения зонда относительно образца по 2-м (X-Y) или 3-м (X-Y-Z) координатам,
регистрирующей системы
№8 слайд
![Основные типы сканирующих](/documents_6/84d594995213d523180f5948e14e1751/img7.jpg)
Содержание слайда: Основные типы сканирующих зондовых микроскопов
Сканирующий туннельный микроскоп — для получения изображения используется туннельный ток между зондом и образцом, что позволяет получить информацию о топографии и электрических свойствах образца.
Атомно-силовой микроскоп — регистрирует различные силы между зондом и образцом. Позволяет получить топографию поверхности и её механические свойства.
Сканирующий ближнепольный микроскоп — для получения изображения используется эффект ближнего поля
№10 слайд
![Атомно-силовой микроскоп](/documents_6/84d594995213d523180f5948e14e1751/img9.jpg)
Содержание слайда: Атомно-силовой микроскоп
Принцип работы атомно-силового микроскопа основан на регистрации силового взаимодействия между поверхностью исследуемого образца и зондом. В качестве зонда используется наноразмерное остриё, располагающееся на конце упругой консоли, называемой кантилевером. Сила, действующая на зонд со стороны поверхности, приводит к изгибу консоли. Появление возвышенностей или впадин под остриём приводит к изменению силы, действующей на зонд, а значит, и изменению величины изгиба кантилевера. Таким образом, регистрируя величину изгиба, можно сделать вывод о рельефе поверхности.
Под силами, действующими между зондом и образцом, в первую очередь подразумевают дальнодействующие силы Ван-дер-Ваальса, которые сначала являются силами притяжения, а при дальнейшем сближении переходят в силы отталкивания.
В зависимости от характера действия силы между кантилевером и поверхностью образца выделяют три режима работы атомно-силового микроскопа:
Контактный
Полуконтактный
Бесконтактный
№12 слайд
![Сканирующий ближнепольный](/documents_6/84d594995213d523180f5948e14e1751/img11.jpg)
Содержание слайда: Сканирующий ближнепольный микроскоп
в качестве зонда используется миниатюрная диафрагма с отверстием в несколько нанометров - апертура.
в соответствии с законами волновой оптики, видимый свет (с длиной волны несколько сот нанометров) проникает в такое маленькое отверстие, но не далеко, а на расстояние, сопоставимое с размерами отверстия. Если в пределах этого расстояния, в так называемом «ближнем поле», поставить образец, рассеянный от него свет будет регистрироваться. Перемещая диафрагму в непосредственной близости от образца, как в туннельном микроскопе, получим растровое изображение поверхности.
№13 слайд
![В настоящее время сканирующий](/documents_6/84d594995213d523180f5948e14e1751/img12.jpg)
Содержание слайда: В настоящее время сканирующий зондовые микроскопы нашли применение практически во всех областях науки. В физике, химии, биологии используют в качестве инструмента исследования СЗМ. В частности, такие междисциплинарные науки, как материаловедение, биохимия,фармацевтика, нанотехнологии, физика и химия поверхности, электрохимия, исследование коррозии, электроника (например, МЭМС), фотохимия и многие другие. Перспективным направлением считается совмещение сканирующих зондовых микроскопов с другими традиционными и современными методами исследованиями, а также создание принципиально новых приборов. Например, совмещение СЗМ с оптическими микроскопами (традиционными и конфокальными микроскопами), электронными микроскопами, спектрометрами (например, спектрометрами комбинационного (рамановского) рассеяния и флюоресцентными, ультрамикротомами
В настоящее время сканирующий зондовые микроскопы нашли применение практически во всех областях науки. В физике, химии, биологии используют в качестве инструмента исследования СЗМ. В частности, такие междисциплинарные науки, как материаловедение, биохимия,фармацевтика, нанотехнологии, физика и химия поверхности, электрохимия, исследование коррозии, электроника (например, МЭМС), фотохимия и многие другие. Перспективным направлением считается совмещение сканирующих зондовых микроскопов с другими традиционными и современными методами исследованиями, а также создание принципиально новых приборов. Например, совмещение СЗМ с оптическими микроскопами (традиционными и конфокальными микроскопами), электронными микроскопами, спектрометрами (например, спектрометрами комбинационного (рамановского) рассеяния и флюоресцентными, ультрамикротомами
№14 слайд
![Рентгеновский дифракционный](/documents_6/84d594995213d523180f5948e14e1751/img13.jpg)
Содержание слайда: Рентгеновский дифракционный анализ
Когда рентгеновское излучение проходит через материал, радиация взаимодействует с электронами в атоме, что приводит к рассеиванию радиации. Если атомы организованы в кристаллическую структуру и расстояние между атомами равно длине волны в рентгеновском излучении, будет наблюдаться усиливающая и ослабляющая интерференция.
№15 слайд
![Рентгеновский дифракционный](/documents_6/84d594995213d523180f5948e14e1751/img14.jpg)
Содержание слайда: Рентгеновский дифракционный анализ
Это приводит к дифракции, где рентгеновское излучение связано с расстояниями между атомами, организованными в кристаллическую структуру, называемыми плоскостями. Каждый набор плоскостей имеет специфическое межплоскостное расстояние и дает характеристический угол дифрагированных лучей. Соотношение между длиной волны, межатомными расстояниями и углами описывается уравнением Брэгга. Если известна длина излучаемой волны (в зависимости от типа рентгеновского источника и если применяется монохроматор) и угол измерен с помощью дифрактометра, то с помощью уравнения Брэгга может быть вычислено межплоскостное расстояние. Набор этих расстояний, полученный от изучаемого образца, будет представлять набор плоскостей, проходящих через атомы, и может быть использован для набором плоскостей стандартных образцов.
№16 слайд
![Рамановская спектроскопия](/documents_6/84d594995213d523180f5948e14e1751/img15.jpg)
Содержание слайда: Рамановская спектроскопия
Рамановская спектроскопия - вид спектроскопии, в основе которой лежит способность исследуемых систем (молекул) в неупругом (рамановском или комбинационном) рассеянии монохроматического света
Раман-спектрометр состоит из четырех основных компонентов:
источник монохроматического излучения (лазера);
система освещения образца и фокусировки лучей;
светофильтр;
системы обнаружения и компьютерного контроля.
Скачать все slide презентации Нанохимия и нанотехнологии. Методы и средства исследования нанообъектов. (Лекция 3) одним архивом:
Похожие презентации
-
Предмет и задачи нанохимии и нанотехнологий. (Лекция 1)
-
Нанотехнологии. Методы получения наноматериалов. (Лекция 2)
-
Применение метода кислотно-основного титрования в количественном анализе химических веществ и лекарственных средств. (Лекция 7)
-
Исследование снега на общую химическую токсичность методом биотестирования Автор: Милюта Юлия, Тюменская область, Тюменский рай
-
Использование инновационных технологий в обучении химии как средство повышения качества подготовки специалистов. Методи
-
Исследование явления адсорбции на поверхности твердых тел (метод бумажной хроматографии). Асоян Пайлак Зарифи Джамшед 9 a класс ГБОУ лицей 389 ЦЭО Руководитель: Скрижеева Е. В.
-
Химия элементов. Лекция 6 Комплексные соединения: типы и классификация. Методы получения и разрушения. Решение задач.
-
Методы исследования гидрохимического режима водоемов
-
Алкены. Общая характеристика, гомологический ряд, номенклатура, изомерия. Методы синтеза алкенов. Лекция 3
-
Алкины. Общая характеристика, гомологический ряд, номенклатура, изомерия. Методы синтеза алкенов. Лекция 4